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紅外干涉測(cè)量設(shè)備 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：紅外干涉測(cè)量技術(shù), 非接觸式測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉。
產(chǎn)品型號(hào)：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：FSM128系列設(shè)備，裝備有光學(xué)掃描系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：FSM 128 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評(píng)估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性
產(chǎn)品型號(hào)：FSM 500TC 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
Line Card薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：
產(chǎn)品型號(hào)：Line Card 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測(cè)量設(shè)備 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測(cè)量設(shè)備設(shè)計(jì), 片電阻不受針尖距離影響多種型號(hào)以供選擇
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測(cè)量?jī)x一臺(tái)全自動(dòng)紫外線——可見(jiàn)光RAMan儀器，主要用與測(cè)量芯片應(yīng)力。
產(chǎn)品型號(hào)：FSM360 所在地：上海市 更新時(shí)間：2025-08-12 參考價(jià)： 面議 在線留言